Helios 5 DualBeam від компанії Symerfisch Technology забезпечує високопродуктивні можливості зображення та аналізу в лінії продуктів Helios 5. Він розроблений для задоволення потреб матеріалознавчих дослідників та інженерів у широкому спектрі використання FIB-SEM, навіть для складних зразків.

Helios 5 DualBeam змінює стандарти для високороздільної здатності: контраст матеріалу, швидка, проста та точна підготовка зразків високої якості для S/TEM-зображення та атомної томографії (APT), а також для субповерхневої та 3D-характеризації. На основі перевіреної продуктивності серії Helios DualBeam, Helios 5 DualBeam був поліпшений, щоб забезпечити роботу системи в ручному або автоматизованому робочому процесі.

Технічні параметри напівпровідникової промисловості:

Технічні параметри галузі матеріалознавства:

Проще в використанні:

Helios 5 є простою системою DualBeam для користувачів усіх рівнів досвіду. Навчання операторів може бути скорочено з декількох місяців до декількох днів, а система розроблена таким чином, щоб допомогти всім операторам досягти послідовних, повторюваних результатів у різних додатках.

Підвищення продуктивності:

Розширені функції автоматизації, надійність та стабільність програмного забезпечення Helios 5 та AutoTEM 5 дозволяють працювати безпілотно і навіть вночі, значно покращуючи потік підготовки зразків.

Покращення часу та результатів:

Helios 5 DualBeam впроваджує технологію FLASH для тонкого регулювання зображення. Завдяки технології FLASH вам потрібно просто керувати мишею в інтерфейсі користувача, щоб система могла розсіяти зображення, центрувати лінзу та фокусувати зображення в режимі реального часу. Автоматичне налаштування значно покращує поток, якість даних та спрощує отримання високоякісних зображень. В середньому, технологія FLASH може скоротити час, необхідний для отримання оптимізованого зображення, в 10 разів.